본문바로가기
표면입자계수기-S시리즈

S5 Series

SPro 자동스캔

SA 시리즈 - 고성능, 자동스캔방식

S300 시리즈

S3 시리즈

SMF5멤브레인필터 전용

SPOL2

SMD 시리즈 (휴대형)

표면입자계수기-S시리즈

 Jedex S 시리즈는 Jedex가 독자적으로 개발한 고감도 검출기와 검출 알고리즘을 적용하여 Machine Vision이나 AOI 장치로 검출할 수 없는 많은 수의 입자도 검출합니다. 


Jedex의 특허 기술 

1. 독자적 개발 검출기: 투명 반투명 Glass, Film 의 표면 또는 그 내측 레이어에 존재하는 입자에 대한 검출력이 뛰어 납니다. (특허 )

2. 하이브리드 검출방식: Jedex S 시리즈는 광산란 + 이미지 분석을 결합하여 더 많은 면적을 더 짧은 시간내에 검사할 수 있어 

   생산성이 매우 높습니다.


폭넓은 선택을 제공

기능별, 성능별, 폭넓은 구매 가격대의  다양한 장치 중에서 귀사에 적합한 장치를 선택 하십시요



Need assistance?

필요한 조건과 예산에 맞는 적합한 제품 선택을 위해
전문가의 조언이 필요하시다면 당사로 문의주십시오

Products List

S5 Series

S5 시리즈

SPro 자동스캔

SPro 시리즈 표면입자계수기 중형 크기 시료용 ( 최대 100x100mm)

SA 시리즈 - 고성능, 자동스캔방식

SA 시리즈 - 소형에서 부터 대형시료 (최대 300 x 300 mm 크기 시료까지 )

S300 시리즈

OLEDoS 제조를 위한 표면/유리 입자 카운터

S3 시리즈

S3 시리즈 표면입자계수기 정밀 매뉴얼 XY 스테이지를 채용하여 보다 큰 시료에 대응

SMF5멤브레인필터 전용

SMF5 시리즈 - 멤브레인 필터 표면 입자 계수기 (액체, 기체 중 입자 채취 후 계수)

SPOL2

SPOL2

SMD 시리즈 (휴대형)

SMD 시리즈 - 휴대형 표면입자 계수기

Fold product

News

더 많은 정보를 원하시나요?

전문가에게 문의하십시오.
고객님의 모든 질문과 관심사에 성심성의껏 답변해 드리겠습니다.

제품 컨설팅 문의하기