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Products List

S605 Surface Particle Counter

Portable Surface Particle Counter

공정 모니터링 , 금속입자 검출 평가
Slive Real Time Falling Particle Counter

Slive - Real Time Falling Particle Monitor / Particle Collecting by Film / Membrane filters

Symm110 - 0.1 um

Symm110 - High Performance Surface Particle Detector

M7000 / M1000R25 (new)

Parts cleanliness and particle testing system for Shower Heads, Electrodes, Electrostatic Chucks (ESC) , Robot Arms, Focus rings, Cleanroom Wipers, FOUPs ..,

FAB 공정용 장치/부품의 청정도
S5 Series

S5 시리즈

낙하입자 관리 , 공정 모니터링 , 입자,청정도 시험 , 제조장치 부품 및 유니트 청정도 평가 , 금속입자 검출 평가 , 금속, 비금속 입자 분류 계수 , 입자/청정도시험(Equipment,Tray, Carrier, Magazine ) , 입자/청정도 시험 , 표면입자관리 , 필름,박판, 박막 표면의 입자 계수 , PCB 표면 입자, 트레이 입자 , 트레이, 매거진, 포장재 , 재료,Glass,Films(OCA, POL. PF. Trays,) , 반도체용 트레이, 포장재
S350LA Wide Area

S350LA Surface Particle Counter for Wide Area Samples

SPro 자동스캔

SPro 시리즈 표면입자계수기 중형 크기 시료용 ( 최대 100x100mm)

제조장치 청정도 , Gases , Glass, Glass Wafers , 공정 모니터링 , 트레이, 캐리어, 운반도구 , 필름,박판, 박막 표면의 입자 계수 , 입자,청정도 시험 , 제조장치 부품 및 유니트 청정도 평가 , 금속입자 검출 평가 , 금속, 비금속 입자 분류 계수 , 입자/청정도시험(Equipment,Tray, Carrier, Magazine ) , 입자/청정도 시험 , FAB 공정용 장치/부품의 청정도 , 낙하입자 관리 , 표면입자관리 , 청정용품, 방진의류 청정도 , Inks, Photoresists, Waters , 재료,Glass,Films(OCA, POL. PF. Trays,) , 공정중 입자 모니터링
SA 시리즈 - 고성능, 자동스캔방식

SA 시리즈 - 소형에서 부터 대형시료 (최대 300 x 300 mm 크기 시료까지 )

재료,Glass,Films(OCA, POL. PF. Trays,) , 공정 모니터링 , 제조장치 부품 및 유니트 청정도 평가 , 금속입자 검출 평가 , 금속, 비금속 입자 분류 계수 , 입자/청정도시험(Equipment,Tray, Carrier, Magazine ) , 입자/청정도 시험 , FAB 공정용 장치/부품의 청정도 , 트레이, 캐리어, 운반도구 , Silicon Wafers (Bare, Coated) , Glass, Glass Wafers , 필름,박판, 박막 표면의 입자 계수 , 금속표면 , PCB 표면 입자, 트레이 입자 , 낙하입자 관리 , 표면입자관리 , 청정용품, 방진의류 청정도 , 액중, 액조의 입자 , Inks, Photoresists, Waters , 공정중 입자 모니터링
S300 시리즈

OLEDoS 제조를 위한 표면/유리 입자 카운터

OLEDOS 제조 공정 , Glass, Glass Wafers , PCB 표면 입자, 트레이 입자 , 공정중 입자 모니터링
S3 시리즈

S3 시리즈 표면입자계수기 정밀 매뉴얼 XY 스테이지를 채용하여 보다 큰 시료에 대응

낙하입자 관리 , 공정 모니터링 , 입자,청정도 시험 , 제조장치 부품 및 유니트 청정도 평가 , 금속입자 검출 평가 , 금속, 비금속 입자 분류 계수 , 입자/청정도시험(Equipment,Tray, Carrier, Magazine ) , 입자/청정도 시험 , 표면입자관리 , 필름,박판, 박막 표면의 입자 계수 , PCB 표면 입자, 트레이 입자 , 트레이, 매거진, 포장재 , 재료,Glass,Films(OCA, POL. PF. Trays,) , 반도체용 트레이, 포장재 , 공정중 입자 모니터링 , 반도체 패키징, 시험 공정
SMF5멤브레인필터 전용

SMF5 시리즈 - 멤브레인 필터 표면 입자 계수기 (액체, 기체 중 입자 채취 후 계수)

공정 모니터링 , 입자,청정도 시험 , 제조장치 부품 및 유니트 청정도 평가 , 금속입자 검출 평가 , 금속, 비금속 입자 분류 계수 , 입자/청정도 시험 , 입자/청정도시험(Equipment,Tray, Carrier, Magazine ) , Gases , Liquids and Waters , PCB용 재료, 박판 , Inks, Photoresists, Waters , 공정중 입자 모니터링
SPOL2

SPOL2

금속입자 검출 평가 , 금속, 비금속 입자 분류 계수
SMD 시리즈 (휴대형)

SMD 시리즈 - 휴대형 표면입자 계수기

제조장치 청정도 , 2차전지 배터리 산업 , 낙하입자 관리 , 표면입자관리 , 청정용품, 방진의류 청정도 , 공정 모니터링 , 제조장치 부품 및 유니트 청정도 평가 , 필름,박판, 박막 표면의 입자 계수 , 반도체 패키징, 시험 공정 , PCB 표면 입자, 트레이 입자 , PCB용 재료, 박판 , Inks, Photoresists, Waters , 트레이, 매거진, 포장재 , 재료,Glass,Films(OCA, POL. PF. Trays,) , 반도체용 트레이, 포장재 , 공정중 입자 모니터링
ParticlePro M3000 반도체 제조장치용 부품 파티클 검사, 청정도 평가

M3000(Parts Cleanliness Testing and Cleaning System) - Shower Head, Electrodes, Focus Ring

FAB 공정용 장치/부품의 청정도
Nanox 1000 - Wet 방식 부품 청정도 검사

Nanox 1000 - Wet 방식 부품 청정도 검사 장치, 대부분의 파트류 시험

FAB 공정용 장치/부품의 청정도 , 시료채취 , 제조장치 부품 및 유니트 청정도 평가
ASK

OCA Films, Cover Glass - 290mm x 200 mm area /count

재료,Glass,Films(OCA, POL. PF. Trays,) , 필름,박판, 박막 표면의 입자 계수 , Glass, Glass Wafers , 공정중 입자 모니터링
cleani-Symm 9-AS

cleani-Surface particle removal system

FAB 공정용 장치/부품의 청정도 , 제조장치 크리닝 , 제조장치 청정도 , Processing/Cleaning , 크린룸/청정실 크리닝 청소 , 크리닝(Equipment,Tray, Carrier, Magazine)
cleani-Symm 3

cleani-Symm 3

크리닝(Equipment,Tray, Carrier, Magazine) , 크린룸/청정실 크리닝 청소 , 제조장치 크리닝 , 2차전지 배터리 산업 , 크리닝-장치표면,트레이,표면 , 제조장치 및 시설 크리닝, 입자제거
cleani-Symm 10

cleani-Symm 10

제조장치 크리닝 , 제조장치 청정도 , Processing/Cleaning , 크린룸/청정실 크리닝 청소 , 크리닝(Equipment,Tray, Carrier, Magazine) , 2차전지 배터리 산업 , 제조장치 크리닝 , 크리닝-장치표면,트레이,표면 , 제조장치 및 시설 크리닝, 입자제거
cleani-Symm 9

cleani-Symm 9

크린룸/청정실 크리닝 청소 , 크리닝(Equipment,Tray, Carrier, Magazine) , 제조장치 크리닝 , 제조장치 청정도 , 크리닝-장치표면,트레이,표면 , 입자/청정도시험(Equipment,Tray, Carrier, Magazine ) , 입자/청정도 시험 , Wafer Foups, Carriers, Shoeboxes , 제조장치 및 시설 크리닝, 입자제거 , 청정용품, 방진의류 청정도
T1200

Particle Testing System for Cleanroom supplies (nano, sub-micron)

T802H Helmke Drum

Particle Testing System - Helmke Drum - IES-RP-CC 3.3, Self Cleaning

청정용품, 방진의류 청정도 , 2차전지 배터리 산업
T802

Particle Testing System for Cleanroom supplies (sub-micron)

청정용품, 방진의류 청정도
T600H Helmke Drum

T600H Helmke Drum - IES-RP-CC 3.3

청정용품, 방진의류 청정도
T700 JIS 시리즈

JIS B 9923 규격에 따른 텀블링식 입자 시험기 (방진복 시험 전용)

청정용품, 방진의류 청정도
T700H Helmke Drum

T700H Helmke Drum - IES-RP-CC 3.4

청정용품, 방진의류 청정도
표면입자계수기 교정 표준

표면입자계수기 교정용 표준시료

표면입자계수기 교정
M2000 - 샤워헤드, 캐소드 홀 입자 계수

Shower Head, Cathodes 파티클 감지/청정 시스템 - 반도체 FAB 장비

SG20 (단종)

이모델은 단종되었습니다. 후속 모델은 ASK 입니다.

S2 시리즈 (단종)

단종된 모델입니다. 후속 모델은 SA, SPro, S3, S5 입니다.

ParticlePRO7 V1 - 본체 분리형

ParticlePRO7 V1

SMD 2018

SMD 2018년 버전으로 단종 모델 입니다. 후속 모델은 SMD Portable 입니다.

S1 시리즈 (단종. 지원 종료)

단종된 모델입니다. 판매 와 사후지원이 종료된 모델 입니다.

ParticlePRO7 부품 청정도 검사, 크리닝 장치

입자 계수 시스템 - 반도체 장비의 Focus ring 및 표면 부품

SM 시리즈 (단종)

단종된 모델입니다. 후속 모델은 SMF5 입니다.

SMF- 필름전용 시리즈 (단종)

단종된 제품입니다. 후속 모델은 SA, SPro, S3, ASK, SMD 시리즈 들 입니다.

M2000ESC 정전척 검사 크리닝 장치

M2000ESC

Fold product
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