- S5 Series




S505는 제덱스의 주력 표면 파티클 카운터입니다. 부품·장비·지그·부자재·의류 등 다양한 표면의 파티클을 점착 필름으로 채취한 뒤, 5 ~ 5,000 µm 범위에서 크기별 개수를 측정합니다. SEMI E195 Adhesive Substrate Method에 준거합니다.
표면에 붙은 파티클을, 붙였다 떼는 것만으로 수치화합니다.
S505는 제덱스의 주력 표면 파티클 카운터입니다. 부품·장비·지그·부자재·의류 등 다양한 표면의 파티클을 점착 필름으로 채취한 뒤, 5 ~ 5,000 µm 범위에서 크기별 개수를 측정합니다. SEMI E195 Adhesive Substrate Method에 준거합니다.
| 방식 | 한계 | S505 |
|---|---|---|
| 에어 파티클 카운터 | 공기 중 입자만 측정합니다. 공기 중 5 µm 이상 입자가 0이어도 표면에서는 같은 크기의 입자가 다수 검출되는 경우가 많습니다. | 제품과 맞닿는 표면을 직접 측정 |
| 웨이퍼 검사기 | 실리콘 웨이퍼만 측정할 수 있습니다. | 시료 형태 제한 없이 필름으로 채취 |
| 현미경 · 멤브레인 필터 | 측정할 수 있는 시료가 제한적입니다. | 고가의 웨이퍼나 대형 현미경 없이 현장에서 바로 수치화 |
| 측정 원리 | 점착 필름 전사 + 광학 스캔 |
|---|---|
| 검출 크기 | 5 ~ 5,000 µm |
| 소프트웨어 · 출력 | MicroLabo®, Excel 즉시 출력 |
| 준거 규격 | SEMI E195, ISO 14644-9 |
| 관련 특허 | KR 10-1582461 외 (점착 필름 채취) |
| 교정 | 연 1회 권장, 교정성적서 · 교정 스티커 발행 |
Q. 교정은 얼마나 자주 받아야 하나요?
연 1회 교정을 권장합니다. 교정 후에는 교정성적서와 교정 스티커를 발행합니다.
Q. 매일 해야 하는 점검이 있나요?
매일 계수 전에 Background Test(필름 없이 홀더만 넣고 장비 잡음 확인)와 Optic Test(체크 패턴으로 광학계 광레벨 확인)를 권장합니다. 두 점검은 교정을 대신하지 않습니다.