S5 Series
S5 시리즈
S5  Series
S5  Series

Applications

  • Semiconductror
  • SEMI E195-0925 - Test Method Using Adhesive Replacement Substrates to Assess ..
    1. SEMI E195-0925 - Test Method Using Adhesive Replacement Substrates to Assess Particulate Surface Contamination on Critical Chamber Components
  • S5 시리즈는
제품문의 요청은 여기를 누르세요
8S5 시리즈는 입자의 채취를  채취성능이 뛰어나고 정교한 제어가 가능한 자사 개발  입자채취용 필름( DD 시리즈 등) 을 이용하여 입자를 계수하는 장치 입니다.


이 장치는 ㈜제덱스가 개발한 특허 등록된 신개념 검출 기술들을 적용하여 입자의 검출 성능이 뛰어나며 검출 속도가 매우 빠릅니다. 


S5 시리즈는 공정 중 Particle 검출 및 관리 / 수입검사 / 출하검사 / 신제품 개발 등 다양한 업무에 적용될 수 있습니다. 


SEMI E195-0925 - Test Method Using Adhesive Replacement Substrates to Assess Particulate Surface Contamination on Critical Chamber Components


ASTM E1216-21 – Standard Practice for Sampling for Particulate Contamination by Tape Lift


ISO 14644-17:2021 - Particle deposition rate applications

ISO 14644-9:2022 - Assessment of surface cleanliness for particle concentration


IEST STD-CC1246E - Product Cleanliness Levels - Applications, Requirements, and Determination

IEST-RP-CC005: Gloves and Finger Cots Used in Cleanrooms and Other Controlled Environments

Related Products

  • S3  시리즈
    S3 시리즈
    낙하입자 관리 , 공정 모니터링 , 입자,청정도 시험 , 제조장치 부품 및 유니트 청정도 평가 , 금속입자 검출 평가 , 금속, 비금속 입자 분류 계수 , 입자/청정도시험(Equipment,Tray, Carrier, Magazine ) , 입자/청정도 시험 , 표면입자관리 , 필름,박판, 박막 표면의 입자 계수 , PCB 표면 입자, 트레이 입자 , 트레이, 매거진, 포장재 , 재료,Glass,Films(OCA, POL. PF. Trays,) , 반도체용 트레이, 포장재 , 공정중 입자 모니터링 , 반도체 패키징, 시험 공정
  • SPro  자동스캔
    SPro 자동스캔
    제조장치 청정도 , Gases , Glass, Glass Wafers , 공정 모니터링 , 트레이, 캐리어, 운반도구 , 필름,박판, 박막 표면의 입자 계수 , 입자,청정도 시험 , 제조장치 부품 및 유니트 청정도 평가 , 금속입자 검출 평가 , 금속, 비금속 입자 분류 계수 , 입자/청정도시험(Equipment,Tray, Carrier, Magazine ) , 입자/청정도 시험 , FAB 공정용 장치/부품의 청정도 , 낙하입자 관리 , 표면입자관리 , 청정용품, 방진의류 청정도 , Inks, Photoresists, Waters , 재료,Glass,Films(OCA, POL. PF. Trays,) , 공정중 입자 모니터링 , SEMI E195-0925 - Test Method Using Adhesive Replacement Substrates t..
  • SA  시리즈 - 고성능, 자동스캔방식
    SA 시리즈 - 고성능, 자동스캔방식
    재료,Glass,Films(OCA, POL. PF. Trays,) , 공정 모니터링 , 제조장치 부품 및 유니트 청정도 평가 , 금속입자 검출 평가 , 금속, 비금속 입자 분류 계수 , 입자/청정도시험(Equipment,Tray, Carrier, Magazine ) , 입자/청정도 시험 , FAB 공정용 장치/부품의 청정도 , 트레이, 캐리어, 운반도구 , Silicon Wafers (Bare, Coated) , Glass, Glass Wafers , 필름,박판, 박막 표면의 입자 계수 , 금속표면 , PCB 표면 입자, 트레이 입자 , 낙하입자 관리 , 표면입자관리 , 청정용품, 방진의류 청정도 , 액중, 액조의 입자 , Inks, Photoresists, Waters , 공정중 입자 모니터링 , SEMI E195-0925 - Test Method Using Adhesive Replacement Substrates t..
  • SMF5멤브레인필터 전용
    SMF5멤브레인필터 전용
    공정 모니터링 , 입자,청정도 시험 , 제조장치 부품 및 유니트 청정도 평가 , 금속입자 검출 평가 , 금속, 비금속 입자 분류 계수 , 입자/청정도 시험 , 입자/청정도시험(Equipment,Tray, Carrier, Magazine ) , Gases , Liquids and Waters , PCB용 재료, 박판 , Inks, Photoresists, Waters , 공정중 입자 모니터링
  • SMD 시리즈 (휴대형)
    SMD 시리즈 (휴대형)
    제조장치 청정도 , 2차전지 배터리 산업 , 낙하입자 관리 , 표면입자관리 , 청정용품, 방진의류 청정도 , 공정 모니터링 , 제조장치 부품 및 유니트 청정도 평가 , 필름,박판, 박막 표면의 입자 계수 , 반도체 패키징, 시험 공정 , PCB 표면 입자, 트레이 입자 , PCB용 재료, 박판 , Inks, Photoresists, Waters , 트레이, 매거진, 포장재 , 재료,Glass,Films(OCA, POL. PF. Trays,) , 반도체용 트레이, 포장재 , 공정중 입자 모니터링 , SEMI E195-0925 - Test Method Using Adhesive Replacement Substrates t..